电子产品低温测试异常

应使用专门的高温或低温试验方法试验方法N温度变化,旨在通过模拟温度变化环境,测试产品的耐受性及可能的性能变化标准文档为平装16开本,总页数为12页,文字总计21千字由中国标准出版社于2004年4月4日出版,为电工电子产品环境试验领域的专业人士提供了重要的测试和评价依据。不同的测试环境条件将会对产品产生不同的影响以...